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          技術專題

          涂層測厚儀的最新技術簡介

          發布日期:2014-07-08 點擊:1518

          涂層測厚儀的較新技術簡介

             涂層測厚儀的較新技術目前,國內國外不管是出名的品牌還是一般的生產廠家,其測厚儀的操作方法均需要如下步驟:1調零,即在特定的零板上調零,或在需要測量的原基材上調零;2根據測量產品的不同測量范圍,用適當的測試片調值,以減少測量上的誤差。這種方法一般情況下,儀器新購使用時還是沒有什么問題的,只是比較繁瑣一點。但當探頭使用一段時間后,問題就出來了。操作中我們的儀器測量精度大大減小了。很難把握。原因在于產品的原理,這是一個致命的缺陷,即探頭是使用一根磁鐵繞線圈。通上電流后產生磁場,這個磁場是不規則的。還好,現在有一款新型的涂層測厚儀,它采用的是較新的磁感技術。也就是我們知道的霍爾效應,霍爾于1879年發現的。通過研究霍爾電壓與工作電流的關系,測量電磁鐵磁場、磁導率、研究霍爾電壓與磁場的關系,霍爾發現這個電位差UH與電流強度I H成正比,與磁感應強度B成正比,與薄片的厚度d成反比。這個磁場是就變成規則的。該原理運用在涂層測厚儀上面就無需再調測試片了。特別是測量圓弧的或凹面的產品時,使用更為簡單和方便了。

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